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發布時間:2024-11-27作者來源:薩科微瀏覽:826
現在國內檢測設備的創業市場實在數太火了
本月初,我剛剛發布了一個數據,統計了全球53家半導體缺陷檢測設備的供應商數據。這才過去兩周的時間,我這里有收集到三家供應商信息,而且都是中國大陸的廠商 -- 基本每周增加1到2家 ...
其實這個領域的技術門檻很高。按照之前某個行業大佬給我的指點:
目前國內很多缺陷檢測設備還是停留在AOI的階段,分辨率都在0.5um以上。而真正意義上的納米級檢測設備,無論是有圖形還是無圖形,一般明場的準入門檻必須達到小于250nm,而暗場的門檻是小于100nm
有圖形檢測一般對標KLA的2139(明場)和PUMA 93XX/95XX(暗場);無圖形的一般以KLA的 Surfscan為基準(目前這塊國內好像有幾家已經做得相當不錯,技術指標可以達到SP3甚至S號稱對標SP6)
目前限于能力有限,我還無法對收集到的56家供應商(其中37家是中國大陸廠商)進行更細致的技術分級統計。只能先做個相對簡單的統計表格供大家參考一下
大家發現任何問題,或者有任何建議,請留言和我交流。謝謝您的支持了
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